原著論文

量子界面物性
教授 神谷格

RecordID:2016719

掲載年度 2018
題目 Band profiling of p-Si/ITO interface by Kelvin probe force microscopy under light controlled conditions
発表区分 Proceedings
著者 Fumihiko Yamada, Takefumi Kamioka*
Yoshio Ohshita
Itaru Kamiya
掲載誌 出版者 IEEE
掲載誌名 Proceedings of 2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC7)
ISBN/ISSN Print on Demand(PoD) ISSN: 0160-8371
巻(vol.) 号(No.) 頁(pp.)3315-3318
発行年月日 2018/11/29