学会発表

半導体
招聘研究員 山口真史

掲載年度 2019
種類 国外
学会名 46th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 46)
発表題目 Alignment Tolerance Control of the Micro CPV Array Using Monte Carlo Methods
発表者 Kenji Araki
Kan-Hua Lee
Nobuhiko Hayashi*, Kouki Ichihashi*, Shutetsu Kanayama*, Takuji Inohara*, Yohei Morita*, Michihiko Takase*
Masafumi Yamaguchi
主催団体 IEEE
発表場所 Sheraton Grand Chicago, Chicago, Illinois, USA
発表日 2019/06/17
講演内容