学会発表

電子デバイス
教授 岩田直高

掲載年度 2019
種類 国外
学会名 Materials Research Meeting 2019
発表題目 Characterization of Au/Ni ohmic contact on p-GaN using hard X-ray photoelectron spectroscopy and 2D-X-ray diffraction
発表者 Satoshi Yasuno(*)
Tomoyuki Koganezawa(*)
So Kuroyanagi
Naotaka Iwata
主催団体
発表場所 横浜シンポジア
発表日 2019/12/13
講演内容 ポスター G5-13-P03