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PD研究員 マチダ ファミ(Machda Fahmi / マチダ ファミ)

業績

年度 学会名 発表者 発表題目 発表日
2021 日本金属学会 2022年春期 第170回講演大会 Machda Fahmi、 Kentaro Kuga、 Singh Saurabh、 Masaharu Matsunami、 Tsunehiro Takeuchi  Thermoelectric Performance of W-substituted Fe<SUB>2</SUB>VAl Thin Films Deposited on n-Si wafers 2022年03月17日
2021 CREST「異常電子熱伝導度と異常格子熱伝導度の制御」Workshop Machda Fahmi、 Masaharu Matsunami、 Tsunehiro Takeuchi  Thermoelectric Performance of W-substituted Fe<SUB>2</SUB>VAl Alloy Thin Films Deposited on Si Substrates 2021年12月18日
2021 Strategy to improve the thermoelectric properties of flexible Ag2S1-xSex material by electronic structure modification シン サウラブ、 平田圭佑、 佐藤紅介、 マチダ ファミ、 山崎樹、 松波雅治、 竹内恒博  第18回日本熱電学会学術講演会(TSJ2021) 2021年08月24日
2021 DCMS Materials 4.0 Summer School 2021 Machda Fahmi、 Tsunehiro Takeuchi  Influence of excess of Al concentrations to Seebeck coefficient of Heusler alloy thin films deposited on n-Si substrates 2021年08月18日

プロフィール

学位 PhD  
生年月日 年齢
所属研究室 エネルギー材料研究室
研究分野
URL
最終学歴
職歴
主な研究論文 ・F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp-heat durability comparison of Al-doped ZnO transparent electrodes deposited at low temperatures on glass and PI-tape / PC substrates, Ceram. Int. (2020) 0–1. doi:10.1016/j.ceramint.2020.03.173.
・F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp Heat Durability of Al-Doped ZnO Transparent Electrodes with Different Crystal Growth Orientations, ECS J. Solid State Sci. Technol. 8 (2019) Q240–Q244. doi:10.1149/2.0261912jss.
・F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Evolution and Recovery of Electrical Property of Reactive Sputtered Al‐Doped ZnO Transparent Electrode Exposed to Harsh Environment, Phys. Status Solidi. 1900519 (2019) 1900519. doi:10.1002/pssa.201900519
学会活動 1) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Effects of Sputtering Gas on Crystal Growth Orientations and Durability of Al-doped ZnO Transparent Electrodes in Harsh Environment, in: 2019 26th Int. Work. Act. Flatpanel Displays Devices, IEEE, Kyoto, Japan, 2019: pp. 1-4 (3–3). doi:10.23919/AM-FPD.2019.8830628.

2) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Development of Carrier Concentration and Its Effects on the Electrical Stability of Al-doped ZnO Transparent Electrode in Harsh Environment, in: 2019 Compd. Semicond. Week, IEEE, 2019: pp. 1–1. doi:10.1109/ICIPRM.2019.8819365.
社会活動(研究に関する学会活動以外)  
学内運営(委員会活動等)  
担当授業科目 学部: 
修士: 
教育実践上の主な業績  
その他 AMFPD'19–ECS Japan Section Young Researcher Award (2020)

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