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PD研究員 マチダ ファミ(MACHDA Fahmi / マチダ ファミ)

業績

年度 賞名 受賞者 受賞日
2020 AMFPD'19–ECS Japan Section Young Researcher Award MACHDA Fahmi 2020年09月01日

プロフィール

学位 PhD  
生年月日 年齢
所属研究室 エネルギー材料
研究分野
URL
最終学歴
職歴
主な研究論文 1) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp-heat durability comparison of Al-doped ZnO transparent electrodes deposited at low temperatures on glass and PI-tape / PC substrates, Ceram. Int. (2020) 0–1. doi:10.1016/j.ceramint.2020.03.173.

2) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp Heat Durability of Al-Doped ZnO Transparent Electrodes with Different Crystal Growth Orientations, ECS J. Solid State Sci. Technol. 8 (2019) Q240–Q244. doi:10.1149/2.0261912jss.

3) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Evolution and Recovery of Electrical Property of Reactive Sputtered Al‐Doped ZnO Transparent Electrode Exposed to Harsh Environment, Phys. Status Solidi. 1900519 (2019) 1900519. doi:10.1002/pssa.201900519
学会活動 1) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Effects of Sputtering Gas on Crystal Growth Orientations and Durability of Al-doped ZnO Transparent Electrodes in Harsh Environment, in: 2019 26th Int. Work. Act. Flatpanel Displays Devices, IEEE, Kyoto, Japan, 2019: pp. 1-4 (3–3). doi:10.23919/AM-FPD.2019.8830628.

2) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Development of Carrier Concentration and Its Effects on the Electrical Stability of Al-doped ZnO Transparent Electrode in Harsh Environment, in: 2019 Compd. Semicond. Week, IEEE, 2019: pp. 1–1. doi:10.1109/ICIPRM.2019.8819365.
社会活動(研究に関する学会活動以外)  
学内運営(委員会活動等)  
担当授業科目 学部: 
修士: 
教育実践上の主な業績  
その他 AMFPD'19–ECS Japan Section Young Researcher Award (2020)

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