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PD研究員 マチダ ファミ(MACHDA Fahmi / マチダ ファミ)

業績

年度 題目 著者 発表日
2020 Damp-heat durability comparison of Al-doped ZnO transparent electrodes deposited at low temperatures on glass and PI-tape/PC substrates MACHDA Fahmi、 Takaya Ogawa(*)、 Hidekuni Okumura(*)、 Keiichi N.Ishihara(*) 2020年07月01日

プロフィール

学位 PhD  
生年月日 年齢
所属研究室 エネルギー材料
研究分野
URL
最終学歴
職歴
主な研究論文 1) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp-heat durability comparison of Al-doped ZnO transparent electrodes deposited at low temperatures on glass and PI-tape / PC substrates, Ceram. Int. (2020) 0–1. doi:10.1016/j.ceramint.2020.03.173.

2) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Damp Heat Durability of Al-Doped ZnO Transparent Electrodes with Different Crystal Growth Orientations, ECS J. Solid State Sci. Technol. 8 (2019) Q240–Q244. doi:10.1149/2.0261912jss.

3) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Evolution and Recovery of Electrical Property of Reactive Sputtered Al‐Doped ZnO Transparent Electrode Exposed to Harsh Environment, Phys. Status Solidi. 1900519 (2019) 1900519. doi:10.1002/pssa.201900519
学会活動 1) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Effects of Sputtering Gas on Crystal Growth Orientations and Durability of Al-doped ZnO Transparent Electrodes in Harsh Environment, in: 2019 26th Int. Work. Act. Flatpanel Displays Devices, IEEE, Kyoto, Japan, 2019: pp. 1-4 (3–3). doi:10.23919/AM-FPD.2019.8830628.

2) F. Machda, T. Ogawa, H. Okumura, K.N. Ishihara, Development of Carrier Concentration and Its Effects on the Electrical Stability of Al-doped ZnO Transparent Electrode in Harsh Environment, in: 2019 Compd. Semicond. Week, IEEE, 2019: pp. 1–1. doi:10.1109/ICIPRM.2019.8819365.
社会活動(研究に関する学会活動以外)  
学内運営(委員会活動等)  
担当授業科目 学部: 
修士: 
教育実践上の主な業績  
その他 AMFPD'19–ECS Japan Section Young Researcher Award (2020)

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